" E X А Б В Г Д Ж З И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ш Э Я 
  • XAFS  —   Термин XAFS Термин на английском X-ray absorption fine structure Синонимы Аббревиатуры XAFS Связанные термины край полосы поглощения, синхротронное излучение, EXAFS, XANES-спектроскопия Определение Тонкая структура спектра рентгеновского поглощения, проявляется в осциляциях зависимости оптической плотности вещества от энергии поглощаемого электромагнитного излучения. Зачастую под XAFS понимают XAFS-спектроскопию, которую используют для структурного анализа. Описание В современном понимании название XAFS объединяет обозначения нескольких участков спектра поглощения рентгеновского излучения вблизи скачка поглощения, вызванного фотоэффектом: область NEXAFS (near edge X-ray absorption fine structure - околопороговая тонкая структура рентгеновского спектра поглощения), ограниченную энергетическим интервалом ±(30-50) эВ относительно энергии порога возбуждения (скачка), и область EXAFS (extended X-ray absorption fine structure - протяжённая тонкая структура рентгеновского спектра поглощения), расположенную выше скачка поглощения и простирающуюся в интервале приблизительно от 30 эВ до 1500-2000 эВ относительно порога возбуждения. Условное деление спектра на эти области вызвано необходимостью использования разных физических приближений для их описания. Поглощение рентгеновского излучения веществом связано со взаимодействием фотонов с электронами внутренних оболочек атома. В результате такого взаимодействия происходит выбивание электронов из атома, что приводит к резкому возрастанию поглощения рентгеновского излучения (скачку) при превышении энергией фотонов энергии связи электрона с ядром (порога возбуждения). Порог возбуждения является характеристической величиной для каждого химического элемента, что позволяет однозначно определять химический элемент по положению порога возбуждения.XAFS, или XAFS-спектроскопия, позволяет получить информацию о природе, количестве и расположении соседних атомов по отношению к измеряемому атому как в первой, так и в более далёких координационных сферах.В связи с этим XAFS-спектроскопия применяется для структурного анализа наряду с дифракционным рентгеноструктурным анализом. При этом она обладает целым рядом дополнительных преимуществ, давая возможность проводить исследование веществ в любом агрегатном состоянии, исследование веществ сложного химического состава, включая случаи, когда концентрация исследуемых атомов мала (например, примеси в сплавах, катализаторы, активные центры в ферментах, анализ загрязнений окружающей среды), а также изучать динамику превращений при химических реакциях и внешних воздействиях. Развитие XAFS-спектроскопии связано с появлением источников синхротронного излучения, без которого её экспериментальная реализация была бы весьма проблематичной, поскольку XAFS спектры измеряют в интервале энергий рентгеновского излучения 1 - 100 кэВ. Авторы Толкачев Николай Николаевич, к.х.н. Ссылки Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. - М.: Физматлит, 2007 - 672 с. Иллюстрации Пример скачкообразного увеличения поглощения в XAFS спектре. Порог возбуждения находится около 9000 эв. Источник: Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. - М.: Физматлит, 2007 - С. 495 Пример разделения спектра XAFS на XANES и EXAFS. По горизонтальной оси отложена энергия рентгеновского излучения относительно порога возбуждения. Источник: Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ. - М.: Физматлит, 2007 - С. 501 Теги Разделы Рентгеновская спектроскопия (XAS, EXAFS и др.)Методы диагностики и исследования наноструктур и наноматериаловМетрология, стандартизация и сертификация продукции наноиндустрии (включая методики анализа и испытаний) (Источник: «Словарь основных нанотехнологических терминов РОСНАНО»)
  • XANES-СПЕКТРОСКОПИЯ  —   Термин XANES-спектроскопия Термин на английском X-ray Absorption Near Edge Structure Синонимы Аббревиатуры Связанные термины XAFS Определение см. XAFS Описание Авторы Толкачев Николай Николаевич, к.х.н. Вересов Александр Генрихович, к.х.н. Ссылки Иллюстрации Теги Разделы Рентгеновская спектроскопия (XAS, EXAFS и др.) (Источник: «Словарь основных нанотехнологических терминов РОСНАНО»)
  • искать в других словарях
T: 0.141508078 M: 2 D: 1