МЕТОДЫ ДИАГНОСТИКИ И ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОСТРУКТУР И НАНОМАТЕРИАЛОВ

Подразделы

  • Зондовые методы микроскопии и спектроскопии: атомно-силовая, сканирующая туннельная, магнитно-силовая и др.
  • Сканирующая электронная микроскопия
  • Просвечивающая электронная микроскопия, в том числе высокого разрешения
  • Люминесцентная микроскопия
  • Дифракционные методы (рентгеновские, электронные, нейтронные)
  • Рентгеновская спектроскопия (XAS, EXAFS и др.)
  • Электронная спектроскопия
  • Наногравиметрия (QCN)
  • Магнитно-резонансные методы
  • Методы локального и нелокального (Auger, XPS) анализа поверхности
  • Терагерцовая спектроскопия
  • Масс-спектрометрия
  • Нелинейно-оптические методы, в том числе рамановская спектроскопия
  • Фемто- и наносекундная спектроскопия
  • Биологические методы, основанные на амплификации

Статьи

  • XAFS
  • биологические моторы
  • биомиметические наноматериалы
  • биосовместимые покрытия
  • бислой
  • векторы на основе наноматериалов
  • дисперсность
  • дифракционное определение среднего размера областей когерентного рассеяния
  • ДНК
  • ДНК-микрочип
  • доставка генов
  • зонд
  • капсид
  • колебательная спектроскопия
  • край полосы поглощения
  • критическая температура мицеллообразования
  • липосома
  • макропоры
  • малоугловое нейтронное рассеяние
  • масс-спектрометр
  • масс-спектрометрия с лазерной десорбцией и ионизацией
  • мессбауэровская спектроскопия
  • микровесы
  • микроволновая спектроскопия
  • микроскопия зондовая
  • микротвердость
  • нанокапсула
  • нанометр
  • наносомы
  • область когерентного рассеяния
  • олигонуклеотид
  • олигопептид
  • отражательная электронная микроскопия
  • плазмида
  • поляритон
  • просвечивающий электронный микроскоп
  • протеом
  • протеомика
  • распределение по размерам (пор, частиц)
  • режимы измерений на СТМ
  • рентгеновская спектроскопия
  • рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
  • РНК
  • сканирующая зондовая микроскопия
  • сканирующая туннельная микроскопия
  • сканирующая туннельная спектроскопия
  • сканирующая электронная микроскопия
  • спектроскопия высокого разрешения характеристических потерь энергии электронами
  • спектроскопия резерфордовского обратного рассеяния
  • спектроскопия характеристических потерь энергии электронами
  • ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия
  • фермент
  • флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения
  • флуоресцентная наноскопия
  • фонон
  • характеристическая вязкость
  • электронно-колебательная спектроскопия
  • эффект Мёссбауэра
  • ядерный магнитный резонанс
(Источник: «Словарь основных нанотехнологических терминов РОСНАНО»)


Энциклопедический словарь нанотехнологий 

МЕТОДЫ ЛОКАЛЬНОГО И НЕЛОКАЛЬНОГО (AUGER, XPS) АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ →← МЕТОД BJH

T: 0.184678985 M: 3 D: 3